@article { author = {Jamshidi, Bahareh}, title = {Rapid detection of pesticide-contaminated product using novel methods of NDT Technology}, journal = {NDT Technology}, volume = {2}, number = {2}, pages = {58-65}, year = {2018}, publisher = {Iranian Society for Nondestructive Testing (IRNDT)}, issn = {2676-6655}, eissn = {2676-6655}, doi = {}, abstract = {Although pesticides which are used to control plant pests and diseases increase the productivity, they have the potential to contaminate the environment and foods. By using pesticides excessively or incorrectly during production, ignoring the degradation period of pesticides and early harvesting, transferring to the market and selling the products immediately or a few days after spraying, the pesticides residue will exceed the maximum residue limits, thus indicating a potential risk to consumer health and safety. To ensure public health, it is essential to detect and determine pesticides contamination of agricultural products especially fruits and vegetables. Currently, several different destructive technologies are used to determine the concentration of pesticides residue which are destructive, have a highly time-consuming sample preparation, are very expensive, and require well-trained personnel and advanced laboratories. Therefore, development of a non-destructive, fast, simple, low-cost, environmentally friendly and reliable detection technique of pesticides residue is imperative. In this paper, some advances in non-destructive testing technology which can use for rapid detection of pesticides-contaminated product are presented and a novel portable system designed based on visible/near-infrared spectroscopy is introduced for this end.}, keywords = {Hyperspectral Imaging,NDT Technology,NIR,Pesticide Residue,Spectroscopy}, title_fa = {شناسایی سریع محصول آلوده به سم آفت‌کش با روش‌های نوین فناوری آزمون غیرمخرب}, abstract_fa = {آفت‌کش‌ها یا سموم شیمیایی که برای کنترل آفت‌ها و بیماری‌های گیاهی استفاده می‌شوند، اگر چه سبب افزایش کارایی تولید محصول هستند، می‌توانند محیط زیست و مواد غذایی را آلوده کنند. استفاده بیش از حد و نادرست آفت‌کش‌ها در طول تولید، عدم توجه به دوره کارنس سموم، برداشت زودهنگام محصولات سم‌پاشی‌شده و ارائه آنها به بازار، و فروش این محصولات بلافاصله یا در مدت زمان کوتاهی پس از سم‌پاشی، منجر به افزایش باقی‌مانده سموم در آنها از حد مجاز می‌شود که مخاطرات جدی برای سلامت و ایمنی مصرف‌کننده در پی دارد. به منظور حفظ سلامت عمومی، شناسایی و تعیین آلودگی محصولات کشاورزی (به ویژه میوه‌ها و سبزی‌ها) به سموم آفت‌کش بسیار ضروری است. در حال حاضر برای اندازه‌گیری غلظت باقی‌مانده سموم، از روش‌های مخرب مختلفی استفاده می‌شود که بسیار پرهزینه و زمان‌بر هستند و نیاز به نیروی متخصص و آموزش‌دیده و آزمایشگاه‌های پیشرفته دارند. بنابراین، توسعه یک روش غیرمخرب سریع، ساده، کم‌هزینه، ناآلاینده و قابل اعتماد به منظور تشخیص باقی‌مانده سموم آفت‌کش بسیار ضروری است. در این مقاله، ضمن ارائه پیشرفت‌های نوین در فناوری آزمون غیرمخرب که می‌توانند برای شناسایی سریع محصول آلوده به سموم شیمیایی استفاده شوند، به معرفی سامانه نوین و قابل حمل طراحی‌شده برای این منظور مبتنی بر روش اپتیکی اسپکتروسکوپی فروسرخ نزدیک پرداخته شده است.}, keywords_fa = {اسپکتروسکوپی,باقی‌مانده سم,تصویربرداری ابرطیفی,فناوری آزمون غیرمخرب,فروسرخ نزدیک}, url = {https://www.jndttech.ir/article_66571.html}, eprint = {https://www.jndttech.ir/article_66571_d20c2507e27aa23e788d9139ce7f3963.pdf} }