%0 Journal Article %T تکنولوژی نوین آزمون غیرمخرب با استفاده از امواج تراهرتز %J نشریه فناوری آزمون‌های غیرمخرب %I انجمن آزمون‌های غیرمخرب ایران %Z 2676-6655 %A مرادیان نژاد, فرزاد %A زنگنه, حمیدرضا %A پناهی, امید %A گلزار شهری, محسن %A مرتضوی, سید محمدعلی %A سوری, علی %D 2019 %\ 02/20/2019 %V 2 %N 3 %P 42-49 %! تکنولوژی نوین آزمون غیرمخرب با استفاده از امواج تراهرتز %K آزمون غیر مخرب %K امواج تراهرتز %K نمونه‌ی الگو %K درونیابی تصویر %R 10.30494/jndt.2019.85335 %X در این پژوهش امکان ارزیابی مواد به صورت غیر مخرب با استفاده از امواج تراهرتز بررسی شد. برای این منظور نتایج حاصل از تعیین ابعاد عیوب مشخص روی نمونه-های الگوی ساخته شده از جنس آلومینیوم، پلکسی گلاس و سرامیک دی اکسید زیرکونیوم با نتایج حاصل از اندازه‌گیری‌های ابعادی با روش‌هایی نظیر ماشین اندازه-گیری مختصات، میکروایکس و ماشین اندازه‌گیری مرئی مقایسه گردید. جهت انجام پژوهش، بسته به ماهیت نمونه و اطلاعات مورد نیاز از دو چیدمان سیستم تصویربرداری تراهرتز عبوری و انعکاسی بر پایه‌ی سیستم طیف سنجی حوزه‌ی زمانی تراهرتز استفاده شد که در آن تولید و آشکارسازی پالسهای امواج تراهرتز با استفاده از یک لیزر فمتوثانیه انجام می‌شود. نتایج نشان داد آزمون غیرمخرب تراهرتز در تشخیص عیوب (عیوب سطحی بسیار کم عمق و عیوب مخفی در بافت نمونه) و اندازه‌گیری‌ها برتر از برخی روش‌های متداول ذکر شده است. در مجموع بسته به انتظار از آزمون و نوع عملکرد آن، روش تصویربرداری با امواج تراهرتز را می‌توان جزو آزمون‌های غیرمخرب قابل رقابت با روش های متداول دانست. %U https://www.jndttech.ir/article_85335_d41dc8de911171a1245d964aad36d922.pdf